xrd是X射线衍射,可以分析相,SEM是扫描电镜,主要观察微观结构,TEM是透射电镜,主要观察超限微观结构,XRD是X射线衍射仪,其原理是在高压下,阴极发射的电子形成高能电子束,轰击阳极靶(一般为Cu),靶内部电子能量增大,被激发,AFM是一种原子力显微镜,主要用于观察表面形貌。{0}1、SEM、TEM、XRD原理及区别xrd是X射线衍射,可以分析相,SEM是扫描电镜,主要观察微观结构,TEM是透射电镜,主要观察超限微观结构。AES指的是能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜也用于观察超微结构。AF...
更新时间:2023-04-26标签: sem电镜科技人员扫描衍生sem原理 全文阅读